Camera di scossa a temperatura personalizzata soddisfa le norme di prova IEC 60068-2-14, Test Na2

Nel mondo dell'elettronica e della produzione industriale, la necessità di test affidabili e precisi dei componenti è di primaria importanza.,Test standard di prova di Na2, svolgono un ruolo cruciale nel garantire la qualità e la durata di una vasta gamma di prodotti.

Questa camera di scossa termica costruita su misura è stata progettata appositamente per sottoporre i componenti ai rigorosi requisiti della prova IEC 60068-2-14, Test Na2.Si rivolge ai produttori di settori quali l'elettronica, automotive, aerospaziale e telecomunicazioni.

L'obiettivo principale è valutare la capacità di componenti come semiconduttori, connettori e schede di circuito stampato di resistere a cambiamenti di temperatura rapidi ed estremi.Simulando le condizioni di shock termico che questi componenti possono incontrare durante la loro vita utile, i produttori possono individuare potenziali debolezze, ottimizzare i progetti e i processi di produzione e migliorare l'affidabilità e le prestazioni complessive dei loro prodotti.

• Costruzione di camere robuste e isolate

  La camera è costruita con materiali resistenti al calore che resistono alle intense tensioni termiche.Le pareti sono realizzate in acciaio ad alta resistenza con strati di isolamento avanzati per ridurre al minimo il trasferimento di calore tra le diverse zone di temperaturaLa porta è dotata di un meccanismo di sigillamento affidabile e di una finestra di visualizzazione, che consente agli operatori di monitorare il processo di prova senza compromettere l'integrità della camera.L' interno è progettato per creare camere separate calde e fredde, garantendo transizioni di temperatura rapide e uniformi.

• Sistema di controllo della temperatura di precisione

  Intervallo di temperatura e ciclo: in grado di raggiungere un ampio intervallo di temperatura, in genere da -70°C a +125°C. Il sistema può eseguire cicli di temperatura rapidi tra le zone calde e fredde,con un tempo di transizione di pochi minutiQuesto è essenziale per replicare i bruschi cambiamenti di temperatura che i componenti possono subire nelle applicazioni del mondo reale, ad esempio quando un dispositivo è acceso o spento in un ambiente ostile.Il controllo della temperatura è accurato entro ±00,5°C, garantendo risultati di prova affidabili e ripetibili.

• Interfaccia intuitiva per il pannello di controllo e l'acquisizione dei dati

  Il pannello di controllo è di facile utilizzo e consente agli operatori di impostare e regolare facilmente i parametri di prova quali i livelli di temperatura, i tempi di permanenza in ciascuna zona e il numero di cicli di scossa termica.Fornisce visualizzazioni in tempo reale della temperatura corrente in entrambe le zone, lo stato del processo di prova e eventuali allarmi o avvertimenti.

  La camera è integrata con un sistema completo di acquisizione dei dati che registra tutti i dati di prova pertinenti.e qualsiasi modifica osservabile delle proprietà fisiche o elettriche dei componentiI dati possono essere memorizzati in una memoria integrata o esportati su dispositivi di archiviazione esterni per ulteriori analisi.

• Caratteristiche di sicurezza e allarmi

  Per garantire la sicurezza degli operatori e la protezione dei campioni di prova e della camera stessa, sono incorporate una serie di dispositivi di sicurezza.Questi includono sistemi di protezione contro la temperatura eccessiva e la corrente eccessiva, pulsanti di arresto di emergenza e allarmi per fluttuazioni anormali di temperatura, malfunzionamenti delle apparecchiature o qualsiasi altro problema relativo alla sicurezza.La camera è inoltre dotata di adeguati sistemi di ventilazione e di scarico per gestire tutti i gas o vapori potenzialmente nocivi che possono essere generati durante il processo di prova..

• Intervallo di temperatura e precisione

  L'intervallo di temperatura da -70°C a +125°C con una precisione di ±0,5°C fornisce uno spettro di prova completo.Per esempio:, alcuni semiconduttori possono subire cambiamenti nella conduttività elettrica a basse temperature, mentre i connettori possono espandersi o contrarsi, influenzando la loro integrità meccanica.Il controllo accurato della temperatura assicura che le condizioni di prova siano mantenute con precisione, consentendo una valutazione dettagliata del comportamento dei componenti.

• Parametri del ciclo di scossa termica

  La camera può essere programmata per eseguire un numero specifico di cicli di scossa termica, in genere compresi tra 10 e 500, a seconda dei requisiti della norma IEC 60068-2-14,Norma di prova di Na2 e natura dei componentiIl tempo di permanenza in ciascuna zona di temperatura può anche essere regolato, da pochi minuti a diverse ore.Questa flessibilità consente ai produttori di simulare una vasta gamma di scenari reali e di valutare la durata a lungo termine dei componenti in diverse condizioni di shock termico.

• Volume di prova e capacità di carico utile

  La camera offre un volume di prova personalizzabile, di solito compreso tra 2 m3 e 10 m3, per ospitare un numero significativo di componenti.La capacità di carico utile è progettata per gestire componenti pesanti e ingombrantiQuesto permette di testare sia singoli componenti che piccoli assemblaggi.

• Frequenza e risoluzione del campionamento

  Il sistema di acquisizione dei dati campiona i dati ad una frequenza fino a 500 Hz. I dati di temperatura hanno una risoluzione di 0,1°C.Questo campionamento ad alta risoluzione e frequente consente di rilevare anche i più piccoli cambiamenti e tendenze di temperatura., che fornisce informazioni preziose sul comportamento dei componenti durante le prove di scossa termica.